表面分析

機器名 メーカー・型式 設置場所 キャンパス
電界放出形透過電子顕微鏡(TEM) 日本電子株式会社/JEM-2100F 38号館N101 東大阪キャンパス
高分解能電界放出形走査電子顕微鏡装置(FE-SEM) 株式会社日立ハイテクノロジーズ/S-4800 38号館N102 東大阪キャンパス
低真空形走査顕微鏡(低真空SEM) 株式会社日立ハイテクノロジーズ/SU1510 38号館N102 東大阪キャンパス
フィールドエミッション形電子プローブマイクロアナライザ(EPMA) 日本電子株式会社/JXA-8530F 38号館N118 東大阪キャンパス
イオンマイクロアナライザ(SIMS) アメテック株式会社/IMF-6F 38号館N120 東大阪キャンパス
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置(rf-GD-OES) 株式会社堀場製作所/GD-Profiler2 38号館S118 東大阪キャンパス
X線光電子分析装置(ESCA) 株式会社島津製作所/AXIS-NOVA 38号館N119 東大阪キャンパス

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