形態観察

機器名 メーカー・型式 設置場所 キャンパス
電界放出形透過電子顕微鏡(TEM) 日本電子株式会社/JEM-2100F 38号館N101 東大阪キャンパス
高分解能電界放出形走査電子顕微鏡装置(FE-SEM) 株式会社日立ハイテクノロジーズ/S-4800 38号館N102 東大阪キャンパス
低真空形走査顕微鏡(低真空SEM) 株式会社日立ハイテクノロジーズ/SU1510 38号館N102 東大阪キャンパス
フィールドエミッション形電子プローブマイクロアナライザ(EPMA) 日本電子株式会社/JXA-8530F 38号館N118 東大阪キャンパス
分析電子顕微鏡 (TEM) 株式会社日立ハイテクノロジーズ/透過電子顕微鏡H-800 研究棟2F1217 奈良キャンパス
ショットキーエミッション型走査電子顕微鏡 株式会社日立ハイテクノロジーズ/S-4300SE/N 2号館1F2105 九州キャンパス

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