電界放出形透過電子顕微鏡（TEM）
Transmission Electron Microscope
| 機器名称 | 電界放出形透過電子顕微鏡（TEM） Transmission Electron Microscope |
|---|---|
| メーカー／型式 |
日本電子株式会社／JEM-2100F |
| 設置場所 |
東大阪キャンパス 38号館N101 |
| 仕様説明 | 200 kVの加速電圧でも高分解能観察が可能な高性能TEMです。2種類の撮影カメラと極微箇所への電子線照射を可能とする絞りを有しており，制限視野電子線回折像の取得も容易です。また，エネルギー分散型X線分析装置（EDX）による分析も可能で，一般的なEDXスペクトルだけでなく元素マッピングや線分析も可能となっています。さらに，走査透過型電子顕微鏡（STEM）観察も可能であり，高角度散乱暗視野STEM（HAADF-STEM）観察による像の撮影も可能です。 ー JEM-2100F is a 200kV high resolution TEM equipped with, cameras to the side and bottom, an aperture which enables easy acquisition of selected area diffraction from extremely small area, EDS spectrometer which enables to acquire not only element spectrum but also elemental map andline profile, STEM system which enables HAADF STEM observation. |
Gatan社製サイドマウントカメラORIUS SC200D
電子回折などでの強い電子線にも問題なく使えます。
感度と分解能を最適化したカスタムレンズによるカップリングを採用
Gatan社製ボトムマウントカメラUltraScan 1000XP
Gatan独自のテクノロジーで受光部、ファイバー、CCDが全て最適化されています。
ファーストライトコントローラーにより、非常に低ノイズでマルチポート読み出しにより、観察速度も向上しています。
US1000 - 2048x 2048 pixel（ pixel sizeは14μm）
CCD使用可能エリアは28.7mm x 28.7mm