形態観察
| 機器名 | メーカー・型式 | 設置場所 | キャンパス |
|---|---|---|---|
| 電界放出形透過電子顕微鏡（TEM） | 日本電子株式会社／JEM-2100F | 38号館N101 | 東大阪キャンパス |
| 高分解能電界放出形走査電子顕微鏡装置（FE-SEM） | 株式会社日立ハイテクノロジーズ／S-4800 | 38号館N102 | 東大阪キャンパス |
| 低真空形走査顕微鏡（低真空SEM） | 株式会社日立ハイテクノロジーズ／SU1510 | 38号館N102 | 東大阪キャンパス |
| フィールドエミッション形電子プローブマイクロアナライザ（EPMA） | 日本電子株式会社／JXA-8530F | 38号館N118 | 東大阪キャンパス |
| 分析電子顕微鏡 (TEM) | 株式会社日立ハイテクノロジーズ／透過電子顕微鏡H-800 | 研究棟2F1217 | 奈良キャンパス |
| ショットキーエミッション型走査電子顕微鏡 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ／S-4300SE/N | 2号館1F2105 | 九州キャンパス |