粉末X線構造解析装置
(薄膜X線)

X-ray Thin-film Diffraction

粉末X線構造解析装置

機器名称 粉末X線構造解析装置(薄膜X線)
X-ray Thin-film Diffraction
メーカー/型式

株式会社リガク/SmartLab 3KW

設置場所

東大阪キャンパス 38号館S117

仕様説明 薄膜X線回折装置はX線源と測定試料を固定して薄膜部分のみに効率的にX線を照射して検出器を移動させて散乱X線を検出し結晶構造や結晶状態の情報を得ることができます。 X線散乱の原理上、金属、鉱物、セラミックス等の測定・解析に有効です。

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